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成像光谱仪离轴三反望远系统的光学设计

发布时间:2017-09-01

引言

成像光谱仪[1]光学系统包括望远系统和光谱仪光学系统两部分。对于高分辨率成像光谱仪而言,其体积和质量主要取决于望远系统的体积和质量。因此,在满足像质要求的前提下,设计出体积小、质量轻的望远系统具有重要的意义。

三反镜消像散(TMA)系统具有无遮拦、宽视场、大孔径、小尺寸等特点,有利于实现高分辨率和系统透过率。近年来,国外开始在成像光谱仪望远系统使用TMA 结构,如HIRIS[2]、COIS[3]、Hyperion[4]等。基于几何光学理论的基础上, 针对光谱范围为1.0~2.5 μm的短波红外[5]谱段高分辨率成像光谱仪,研究和设计了焦距为300 mm 的离轴三反望远系统,视场角达到6.8°×0.1°。

1 方案选择

三反镜系统[6]所有可能的结构形式及其结构特点为: (1) 如果3 个反射镜都是凸反镜或凹反镜,系统不可能满足匹兹万条件[7]。(2) 对于小体积的仪器,主镜和次镜不能同时为凸反镜, 否则镜片口径会很大。(3) 如果次镜和三镜都为凸反镜,则整机封装难度较大。(4) 三镜为凸反镜时,要得到理想的后焦距,主光线的入射角会很大,成像质量也会变差。具体情况如表1 所示。凸反镜为CX,凹反镜为CV。

由表1 可知:只有方案3 和5 两种面形排列结构合理。因为方案3 对应的主镜为凹镜,所以,此种系统结构最紧凑。而凸镜做主镜的方案5 可用于视场角较大的系统,例如反摄远系统。这里选方案3 所对应的凹、凸、凹面形排列为设计方案。

2 结构设计

2.1 初始结构计算

离轴三反镜成像系统的初始结构计算可以当作同轴系统来考虑,如图1 所示。假定物体位于无穷远,即l1 =∞,μ1 =0;入瞳位于主镜上,主镜、次镜及三镜的二次曲面系数分别为

根据高斯公式,次镜对主镜的遮拦比和放大率分别为:

式中:f1 ′为主镜的焦距;hi 、li 、li ′、μ i和μ i ′分别为各镜对应的口径、物距、像距、物方孔径角和像方孔径角;α1 、α2 、β1及β2为与轮廓尺寸有关的变量。对于反射系统,n1 =n2 ′=n3 =1, n1 ′=n2 =n3 ′=-1,ni和ni ′分别为各镜对应的物方和像方折射率。由高斯光学理论推得系统的初始结构参数为:

式中:R1 、R2和R3分别为主镜、次镜和三镜的曲率半径;d1 、d2分别为主镜与次镜、次镜与三镜的间隔;f ′为系统总焦距。

2.2 三级像差校正

三反镜成像系统的球差SI 、彗差SII 、像散SIII和场曲SIV的三级像差系数[8]分别为:

由公式(1)~(5)计算出系统的初始结构参数后,利用公式(6)~(8)求解e21 、e22及e23 。如果系统要求像面是平的,则必须同时满足公式(9)。根据系统的像面位置、中心遮拦和工作距的要求,调整α 1 、α 2 、β 1及β 2的值,校正球差、彗差、像散和匹兹万场曲,可有多组解。

3 设计实例

现设计一个离轴三反结构的望远系统,探测器像元尺寸为18 μm,工作光谱范围为1.0~2.5 μm,焦距f′=300 mm,相对孔径f′/4,视场角6.8°×0.1°。综合考虑系统结构尺寸、非球面加工难易程度以及光线的分布情况等因素,反复调整试算,取α1 =0.5、α2 =-0.7、β1 =4.31、β2 =-0.31,求得初始结构参数如表2 所示。

从表2 可以看出: 主镜、次镜和三镜同为双曲面。对于同轴的三反射系统,将其光阑取该同轴系统的轴外部分,就得到相应的离轴三反系统初始结构,其光路如图2 所示, 调制传递函数曲线和点列图分布如图3 和4 所示。

在图2 中,光阑放置在主镜前,尽管这样会使系统的像差优化复杂化,但是可以平衡次镜和三镜的外形尺寸。由图3 和4 可见:初始结构的MTF 呈现中心视场高和边缘视场低的特点,在分辨率50 lp/mm 处,中心视场MTF 为0.95,边缘视场MTF 为0.5;像元最大光斑的均方根尺寸为12 μm,这主要是由离轴彗差和像散引起的。

针对初始结构的像差特点, 对整个系统进行优化,在保证中心视场成像质量的前提下,校正边缘视场的离轴彗差和像散, 得到优化后的系统结构参数,

如表3 所示,系统非球面最高次数为4 次。

图5~图7 为离轴三反望远系统初始结构优化后的光路图、调制传递函数曲线和点列图。由图6、图7 可见,在保证中心视场成像质量的前提下,优化后的离轴三反望远系统的边缘视场在相同特征频率30 lp/mm 处的调制传递函数提高到0.82, 像元最大光斑的RMS 尺寸也减小为4 μm,系统总长约为f′/2,其像质接近衍射极限。

4 结论

设计的成像光谱仪望远系统为光阑离轴的三反系统,可用视场是条形的,具有无中心遮拦、宽视场、大孔径、小尺寸、平像场等特点,适用于宽视场成像光谱仪望远系统使用,也可用于采用线阵探测器[9]推扫成像的其他光学成像系统。

摘自:中国计量测控网



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